DIN EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 23:29:16  浏览:8405   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part17:Neutronirradiation(IEC60749-17:2003);GermanversionEN60749-17:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射
【标准号】:DINEN60749-17-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:2003-09-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电学测量;集成电路;气候;中子射线;破坏试验;环境试验;气候试验;电子工程;元部件;机械试验;试验;电子设备及元件;半导体;半导体器件;电气工程;辐照效应
【英文主题词】:
【摘要】:Theneutronirradiationtestisperformedtodeterminethesusceptibilityofsemiconductordevicestodegradationintheneutronenvironment.Thetestsdescribedhereinareapplicabletointegratedcircuitsanddiscretesemiconductordevices.Thistestisintendedformilitary-andspace-relatedapplications.Itisadestructivetest.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P;A4
【正文语种】:德语